Résumé
The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 1993-08Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 1Nombre de pages: 3
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Comité technique :ISO/TC 171/SC 2ICS :37.080
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PubliéeISO 6342:2003
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