Numéro de référence
ISO/TR 17055:2002
ISO/TR 17055:2002
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Rapport technique
ISO/TR 17055:2002
Aciers — Dosage du silicium — Méthode par spectrométrie d'émission atomique avec plasma induit par haute fréquence
Edition 1
2002-04
2002-04
Rapport technique
ISO/TR 17055:2002
ISO/TR 17055:2002
28510
CHF
63
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Résumé
L'ISO/TR 17055 spécifie une méthode de dosage du silicium dans les aciers par spectrométrie d'émission avec plasma induit par haute fréquence. La méthode est applicable aux teneurs en silicium ayant une fraction massique comprise entre 0,02 % et 5 %.
La méthode utilise un étalonnage reposant sur un ajustement très étroit de la matrice des solutions d'étalonnage avec celle de l'échantillon et sur un encadrement étroit des teneurs autour de la concentration approchée en silicium de l'échantillon à analyser. Les concentrations de tous les éléments de l'échantillon doivent donc être connues par approximation. Si les concentrations ne sont pas connues, l'échantillon doit être analysé selon une méthode semi-quantitative.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2002-04Stade: Norme internationale publiée [60.60]
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Edition: 1Nombre de pages: 9
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Comité technique :ISO/TC 17/SC 1ICS :77.080.20
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