Résumé
La présente Norme internationale décrit des modes opératoires pour l'analyse par cartographie élémentaire
utilisant une microsonde électronique avec spectrométrie à dispersion de longueur d'onde. Le choix entre la
cartographie par déplacement numérique du faisceau d'électrons dans l'échantillon (cartographie par balayage
du faisceau d'électrons) et la cartographie impliquant uniquement le mouvement de la platine (cartographie
sur zone large) est évalué. La présente Norme internationale décrit cinq types de traitement des données: la
méthode de l'intensité brute des rayons X, la méthode du k‑ratio, la méthode de la courbe d'étalonnage, la
méthode de corrélation et la méthode de correction des effets de matrice.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2012-03Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 1Nombre de pages: 10
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Comité technique :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.50
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