ISO 25178-72:2017

Le dernier examen de cette norme date de 2021. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 25178-72:2017 définit le format de fichier XML x3p pour le stockage et l'échange des données de topographie et de profils.

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2017-05
Edition
: 1

Nombre de pages
: 25
Comité technique
: ISO/TC 213 Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits
ICS
:
17.040.20 Etat de surfaces

	Format	Langue
std 1 124	PDF
std 2 124	Papier

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle

+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.