ISO 17470:2014
p
ISO 17470:2014
64783
Indisponible en français

État actuel : Publiée (En cours d'examen)

Le dernier examen de cette norme date de 2019. Cette édition reste donc d’actualité.
fr
Format Langue
std 1 63 PDF + ePub
std 2 63 Papier
  • CHF63
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise

Résumé

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Prévisualiser 

Prévisualiser cette norme sur notre Plateforme de consultation en ligne (OBP)

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2014-01
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  •  : 2
  • ISO/TC 202/SC 2
    71.040.99 
  • RSS mises à jour

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)