ISO 17915:2018

Indisponible en français

Publiée (Edition 1, 2018)

Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2023. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17915:2018

CHF 151

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Résumé

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2018-05

Stade
: Norme internationale confirmée [90.93]
Edition
: 1
Comité technique :
ISO/TC 172/SC 9

ICS :
31.260
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