ISO 15470:2017 - Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters

недоступно на русском языке

Опубликовано (Версия 2, 2017)

Последний раз этот публикация был пересмотрен в 2022. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 15470:2017

CHF 42

Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 15470:2017 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer are described.

Общая информация

Текущий статус
: Опубликовано

Дата публикации
: 2017-03

Этап
: Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
Версия
: 2
Технический комитет :
ISO/TC 201/SC 7

ICS :
71.040.40
RSS обновления

Жизненный цикл

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ