International Standard
ISO 14594:2024
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
Reference number
ISO 14594:2024
Edition 3
2024-06
© ISO 2024
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2024)

ISO 14594:2024

Язык
Формат
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document gives general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the electron probe, the wavelength spectrometer, and the specimen that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of probe current, probe diameter, dead time, wavelength resolution, background, analysis area, analysis depth, and analysis volume.

This document is applicable for the analysis of a well-polished specimen using normal beam incidence.

This document does not apply to energy dispersive X-ray spectroscopy.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2024-06
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.50
  8. ISO 14594:2024