ISO/CD 16524
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for quantitative nanoscale potential measurement by Kelvin probe force microscopy
Reference number
ISO/CD 16524
Версия 1
© ISO 2024
Committee Draft
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта рассматривается комитетом.

Тезис

This document describes the standard procedures for the quantitative use of Kelvin probe force microscopy (KPFM). It includes reproducible measurements of contact potential differences (CPD), reliable deduction of the work function of the KPFM probe-tip in use, and quantitative evaluation of the lateral resolutions of CPD imaging with KPFM. This document is applicable to the quantitative analysis of KPFM surface potential imaging of solid material surfaces at the nanoscale.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Начало изучения проекта комитета [30.20]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

7
Недорогостоящая и чистая энергия
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 201/SC 9
  6. ISO/CD 16524