Рабочий проект
ISO/WD 25387
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope
Ссылочный номер
ISO/WD 25387
Версия 1
© ISO 2024
Рабочий проект
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document defines the procedure for determining the point resolution, called Scherzer resolution, of high-resolution transmission electron microscopes (HREM), which have the ability to visualize the sample structure with sub-nanometer fineness. The measurement of real spherical aberration coefficient of the objective lens is also included in the measurement procedure. This document does not treat the information limits, lattice resolution, and STEM resolution. In addition, Cs-corrected TEM is not included the target instrument.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Рассылка комментариев [20.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 3
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 3
  6. ISO/WD 25387