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Résumé

Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2019-03
    Stade
    : Norme internationale publiée [60.60]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 22
  • Comité technique :
    ISO/TC 213
    ICS :
    17.040.20 
  • RSS mises à jour
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