ISO 25178-607:2019
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ISO 25178-607:2019
67652
État actuel : Publiée
fr
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std 1 124 PDF + ePub
std 2 124 Papier
  • CHF124
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Résumé

Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2019-03
    : Norme internationale publiée [60.60]
  •  : 1
     : 22
  • ISO/TC 213
    17.040.20 
  • RSS mises à jour

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